基本原理
X射線(xian)衍(yan)射儀(yi)利(li)用(yong)的(de)是(shi)X射線(xian)衍(yan)射原(yuan)(yuan)理。當X射線(xian)（一種波(bo)長很短的(de)電磁波(bo)，能(neng)穿透一定厚度(du)的(de)物(wu)質(zhi)）從(cong)不同的(de)角(jiao)度(du)從(cong)晶(jing)體(ti)(ti)物(wu)質(zhi)內部經過時，X射線(xian)經原(yuan)(yuan)子的(de)作(zuo)用(yong)其光路方向會有規律地發生(sheng)改變，應用(yong)檢測設(she)備可以得(de)到(dao)發生(sheng)偏轉(zhuan)后的(de)X射線(xian)方向和強度(du)，從(cong)而反映出晶(jing)體(ti)(ti)的(de)內部結(jie)構信息（如晶(jing)體(ti)(ti)的(de)化(hua)學組成(cheng)、晶(jing)格類型與結(jie)構、晶(jing)面指數及相(xiang)對強度(du)、織構及應力、物(wu)相(xiang)成(cheng)分等(deng)）。
特點
X射線(xian)衍(yan)射儀具(ju)有易(yi)升級、操(cao)作簡(jian)便(bian)和高度智能(neng)化(hua)的特(te)點，能(neng)夠靈活(huo)地適(shi)應地礦、生化(hua)、理化(hua)等多方面、各行業(ye)的測(ce)試(shi)分析與研(yan)究任(ren)務。具(ju)體(ti)(ti)來說，X射線(xian)衍(yan)射（XRD）是所(suo)有物質（包(bao)括從(cong)流(liu)體(ti)(ti)、粉末到完整晶體(ti)(ti)）重要的無損分析工具(ju)。
應用領域
