四波剪切干涉技術原理：

剪切干(gan)涉(she)(she)(she)技術基本原理是將待檢測(ce)的(de)激(ji)光(guang)波(bo)(bo)(bo)前分(fen)(fen)成(cheng)兩(liang)束(shu)，其中的(de)一(yi)束(shu)相(xiang)對于另一(yi)束(shu)橫向產(chan)(chan)生(sheng)(sheng)一(yi)些錯(cuo)(cuo)位，兩(liang)束(shu)錯(cuo)(cuo)位的(de)光(guang)波(bo)(bo)(bo)各自保持完整的(de)待測(ce)波(bo)(bo)(bo)前信息，相(xiang)互疊合后，產(chan)(chan)生(sheng)(sheng)干(gan)涉(she)(she)(she)現象，CCD/CMOS相(xiang)機會(hui)接(jie)收干(gan)涉(she)(she)(she)圖樣，進行相(xiang)應的(de)計算(suan)分(fen)(fen)析，從而利用傅立(li)葉變換的(de)相(xiang)關計算(suan)，分(fen)(fen)析出待測(ce)波(bo)(bo)(bo)前的(de)相(xiang)位分(fen)(fen)布(bu)，以及強度分(fen)(fen)布(bu)等。基于干(gan)涉(she)(she)(she)條紋(wen)的(de)疏(shu)密(mi)度敏感(gan)于波(bo)(bo)(bo)前的(de)斜率，因此波(bo)(bo)(bo)前傳感(gan)器在探測(ce)波(bo)(bo)(bo)前的(de)偏(pian)離范圍較(jiao)傳統的(de)哈特曼傳感(gan)器具有更大的(de)優越性。

波前傳感器的典型應用

光在傳(chuan)輸的(de)(de)(de)(de)過(guo)程中(zhong)會經過(guo)不(bu)同(tong)的(de)(de)(de)(de)介質(zhi)，不(bu)同(tong)的(de)(de)(de)(de)介質(zhi)由(you)于(yu)其構成物質(zhi)的(de)(de)(de)(de)分(fen)布不(bu)均勻，從而導致光的(de)(de)(de)(de)波(bo)(bo)前(qian)產生各(ge)種(zhong)各(ge)樣的(de)(de)(de)(de)變化，自適(shi)(shi)應(ying)系統便(bian)應(ying)運而生。作(zuo)為自適(shi)(shi)應(ying)系統中(zhong)重(zhong)要(yao)的(de)(de)(de)(de)一(yi)環，波(bo)(bo)前(qian)傳(chuan)感器的(de)(de)(de)(de)檢測精度(du)，動態(tai)范圍等等因素，都(dou)制約著自適(shi)(shi)應(ying)系統最終的(de)(de)(de)(de)調制結果(guo)。由(you)于(yu)剪(jian)切干涉(she)波(bo)(bo)前(qian)分(fen)析儀(yi)具有分(fen)辨率(lv)高，探測精度(du)高，探測速度(du)快(kuai)，操作(zuo)簡(jian)便(bian)，可直(zhi)接的(de)(de)(de)(de)三(san)維顯示(shi)波(bo)(bo)前(qian)畸變的(de)(de)(de)(de)模式等優點，目前(qian)已經得到了廣泛的(de)(de)(de)(de)使用。

　1、自適應光學系統實時波前探測

在自適應(ying)光(guang)學系統中利用(yong)Phasics波前(qian)(qian)傳感(gan)器檢測到準確的(de)波前(qian)(qian)畸(ji)(ji)變信息，反饋給(gei)波前(qian)(qian)校正系統以補償待測波前(qian)(qian)的(de)畸(ji)(ji)變，從而可有效(xiao)的(de)降低湍流應(ying)的(de)影響，補償大(da)氣湍流引起的(de)光(guang)波相位擾動(dong)。

2、激光光束性能、波前像差、M^2、強度等的檢測

激光光束(shu)質量是激光器的(de)(de)一個重(zhong)要的(de)(de)技術指標參(can)數(shu)，主要是指光束(shu)在傳(chuan)播中橫截面的(de)(de)場強分布及變化，主要的(de)(de)參(can)量包括(kuo)：光束(shu)直徑，傳(chuan)播模(mo)式，遠場發散角，光斑方向漂移等(deng)。研究波前相位(wei)的(de)(de)畸變是分析激光裝(zhuang)置中腔鏡變形的(de)(de)主要依(yi)據，提高波前性(xing)能是提高光束(shu)質量的(de)(de)重(zhong)要手(shou)段(duan)。

波(bo)前(qian)分析儀可以用于激(ji)光波(bo)前(qian)的(de)(de)檢(jian)測，同時(shi)可以得到激(ji)光的(de)(de)光強分布和(he)其他的(de)(de)激(ji)光光束質量參(can)數(shu)，為(wei)同時(shi)檢(jian)測激(ji)光波(bo)前(qian)和(he)光束質量提(ti)供(gong)了一種(zhong)高精度(du)，高靈敏度(du)，實時(shi)3D顯示(shi)，簡便可行的(de)(de)新方(fang)法。

3、精密光學元器件檢測

隨著科技(ji)(ji)的(de)(de)進步，人們對精密(mi)光學(xue)元(yuan)器(qi)(qi)件(jian)(jian)的(de)(de)生(sheng)產(chan)(chan)技(ji)(ji)術(shu)指(zhi)標(biao)要求(qiu)越來(lai)越高，波前(qian)探(tan)測(ce)器(qi)(qi)能(neng)給(gei)精密(mi)的(de)(de)對光學(xue)元(yuan)器(qi)(qi)件(jian)(jian)進行檢測(ce)，實時得到準確的(de)(de)監測(ce)數據，對于精密(mi)光學(xue)元(yuan)器(qi)(qi)件(jian)(jian)的(de)(de)生(sheng)產(chan)(chan)無(wu)疑產(chan)(chan)生(sheng)了一(yi)場新的(de)(de)技(ji)(ji)術(shu)革(ge)命。相對于傳統的(de)(de)干(gan)涉儀檢測(ce)光學(xue)元(yuan)器(qi)(qi)件(jian)(jian)的(de)(de)波前(qian)，Phasics波前(qian)分(fen)(fen)析儀更(geng)適合像差(cha)、球差(cha)較大(da)的(de)(de)非球面(mian)透鏡(jing)的(de)(de)檢測(ce)。波前(qian)分(fen)(fen)析儀具有無(wu)需標(biao)準件(jian)(jian)，體積小，精度高，數值孔徑大(da)(可(ke)達0.75)，等優點。

　4、激光等離子體檢測分析

基于波(bo)前分析的(de)(de)四波(bo)剪切干涉技術，可(ke)實(shi)時檢(jian)測激(ji)光(guang)產(chan)生的(de)(de)等(deng)(deng)離子(zi)體(ti)的(de)(de)電(dian)子(zi)密度、模式及傳播方式。可(ke)實(shi)時的(de)(de)監測等(deng)(deng)離子(zi)體(ti)的(de)(de)產(chan)生、擴散(san)過(guo)程，以(yi)及等(deng)(deng)離子(zi)體(ti)的(de)(de)品(pin)質因數。可(ke)以(yi)更好地為客戶在噴嘴設計、激(ji)光(guang)脈沖的(de)(de)照度、氣壓、均勻(yun)性等(deng)(deng)方面提供優化(hua)的(de)(de)數據支持。

除此之外，波前分析儀還(huan)被廣泛(fan)的應用于紅外、近紅外探(tan)測(ce);平(ping)行光管(guan)/望(wang)遠鏡(jing)系統(tong)的檢(jian)測(ce)與裝(zhuang)調;衛星遙感成(cheng)像、生(sheng)物成(cheng)像、熱成(cheng)像領域;球面(mian)(mian)、非球面(mian)(mian)光學元器件檢(jian)測(ce) (平(ping)面(mian)(mian), 球面(mian)(mian), 透鏡(jing));虹膜定位(wei)像差(cha)引(yin)導(dao);大口徑(jing)高精度光學元器件檢(jian)測(ce);激光通(tong)信領域;航空航天等(deng)領域。

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