鋼(gang)板厚度(du)檢(jian)(jian)測，采用自動化(hua)的(de)(de)測量設備，能實(shi)現實(shi)時檢(jian)(jian)測板材厚度(du)的(de)(de)目的(de)(de)，為鋼(gang)板測量帶(dai)來便利，鋼(gang)板分為熱軋、冷軋，本(ben)文介紹了可應(ying)用于鋼(gang)板厚度(du)熱軋和(he)冷軋的(de)(de)幾種測厚儀。

激光測厚儀

激(ji)(ji)(ji)光(guang)(guang)測(ce)(ce)(ce)(ce)厚儀(yi)由上、下(xia)(xia)兩個(ge)對(dui)射(she)的(de)(de)激(ji)(ji)(ji)光(guang)(guang)測(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)組成，其基(ji)本測(ce)(ce)(ce)(ce)量原理(li)如下(xia)(xia)圖(tu)“測(ce)(ce)(ce)(ce)量原理(li)圖(tu)”所示。圖(tu)中激(ji)(ji)(ji)光(guang)(guang)測(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)1和激(ji)(ji)(ji)光(guang)(guang)測(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)2以(yi)固定(ding)間距A相(xiang)對(dui)布置，工作(zuo)時激(ji)(ji)(ji)光(guang)(guang)測(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)1發射(she)一(yi)束(shu)激(ji)(ji)(ji)光(guang)(guang)照射(she)被(bei)測(ce)(ce)(ce)(ce)物的(de)(de)下(xia)(xia)表面(mian)(mian)，下(xia)(xia)表面(mian)(mian)光(guang)(guang)斑(ban)的(de)(de)漫反射(she)光(guang)(guang)再返回到(dao)(dao)激(ji)(ji)(ji)光(guang)(guang)測(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)1內的(de)(de)CMOS或(huo)CCD芯片上，通過對(dui)CMOS或(huo)CCD芯片上光(guang)(guang)斑(ban)的(de)(de)位置分析和計算，可以(yi)得到(dao)(dao)激(ji)(ji)(ji)光(guang)(guang)測(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)1到(dao)(dao)被(bei)測(ce)(ce)(ce)(ce)物下(xia)(xia)表面(mian)(mian)的(de)(de)實際(ji)距離(li)B1；同(tong)理(li)可以(yi)得到(dao)(dao)激(ji)(ji)(ji)光(guang)(guang)測(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)2到(dao)(dao)被(bei)測(ce)(ce)(ce)(ce)物上表面(mian)(mian)的(de)(de)距離(li)B2。用兩個(ge)測(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)之間的(de)(de)間距A減(jian)去(qu)兩個(ge)測(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)到(dao)(dao)被(bei)測(ce)(ce)(ce)(ce)物上下(xia)(xia)表面(mian)(mian)的(de)(de)距離(li)B1、B2即可得到(dao)(dao)被(bei)測(ce)(ce)(ce)(ce)物的(de)(de)厚度(du)H。

測量原理圖

激(ji)光(guang)測厚(hou)(hou)儀又可分(fen)為(wei)接觸式(shi)測厚(hou)(hou)儀與非接觸式(shi)測厚(hou)(hou)儀，多點(dian)測厚(hou)(hou)儀與掃描(miao)式(shi)測厚(hou)(hou)儀。

接觸式測厚儀，更適合冷軋(ya)鋼板厚度檢測。

測厚儀的測量單元(yuan)是(shi)采集(ji)(ji)板(ban)材(cai)厚度尺寸(cun)的單元(yuan)，其主要功(gong)能是(shi)利(li)用接觸式傳感器采集(ji)(ji)與板(ban)材(cai)厚度相關的電信號并將其傳輸到控(kong)制盒(he)。測量單元(yuan)與控(kong)制盒(he)之間由電源線和數據線連接。

工作過程如下：

 C形架(jia)是測量單(dan)元的(de)(de)支(zhi)撐結構(gou)件，在(zai)C形架(jia)的(de)(de)下(xia)(xia)(xia)(xia)方(fang)(fang)設(she)置有下(xia)(xia)(xia)(xia)方(fang)(fang)傳(chuan)感器(qi)(qi)和可以在(zai)導(dao)套內上(shang)(shang)下(xia)(xia)(xia)(xia)滑動的(de)(de)下(xia)(xia)(xia)(xia)壓(ya)輪(lun)支(zhi)桿，支(zhi)桿上(shang)(shang)設(she)置下(xia)(xia)(xia)(xia)壓(ya)輪(lun)。當沒有板(ban)材(cai)(cai)通(tong)過(guo)時下(xia)(xia)(xia)(xia)壓(ya)輪(lun)用彈簧頂起(qi)至極限(xian)高度，板(ban)材(cai)(cai)通(tong)過(guo)時下(xia)(xia)(xia)(xia)壓(ya)輪(lun)被板(ban)材(cai)(cai)壓(ya)下(xia)(xia)(xia)(xia)，壓(ya)下(xia)(xia)(xia)(xia)的(de)(de)距離(li)通(tong)過(guo)下(xia)(xia)(xia)(xia)壓(ya)輪(lun)支(zhi)桿傳(chuan)遞(di)至下(xia)(xia)(xia)(xia)方(fang)(fang)傳(chuan)感器(qi)(qi)。上(shang)(shang)壓(ya)輪(lun)及上(shang)(shang)方(fang)(fang)傳(chuan)感器(qi)(qi)的(de)(de)工作過(guo)程與下(xia)(xia)(xia)(xia)壓(ya)輪(lun)相(xiang)同(tong)，通(tong)過(guo)對上(shang)(shang)、下(xia)(xia)(xia)(xia)兩個(ge)傳(chuan)感器(qi)(qi)移(yi)動距離(li)的(de)(de)計算，即可得到板(ban)材(cai)(cai)的(de)(de)厚度尺寸(cun)。

 由于(yu)測(ce)(ce)厚(hou)儀測(ce)(ce)量(liang)的(de)板(ban)材厚(hou)度(du)(du)尺寸范圍較大，為了保證板(ban)材順利通過兩(liang)個壓(ya)(ya)輪(lun)中間而不(bu)會(hui)撞(zhuang)壞測(ce)(ce)厚(hou)儀，上(shang)(shang)(shang)壓(ya)(ya)輪(lun)設置為可(ke)(ke)以自動提升(sheng)高度(du)(du)的(de)結構(gou)。提升(sheng)方法(fa)是(shi)通過步進電機驅動絲杠使與絲母連接的(de)上(shang)(shang)(shang)支撐臂(bei)提升(sheng)或下降，進而帶(dai)動上(shang)(shang)(shang)支撐臂(bei)前端導(dao)套(tao)內的(de)上(shang)(shang)(shang)壓(ya)(ya)輪(lun)支桿(gan)上(shang)(shang)(shang)升(sheng)或下降。上(shang)(shang)(shang)壓(ya)(ya)輪(lun)支桿(gan)上(shang)(shang)(shang)升(sheng)或下降的(de)距離也將傳遞到上(shang)(shang)(shang)方傳感器內，所以上(shang)(shang)(shang)壓(ya)(ya)輪(lun)上(shang)(shang)(shang)升(sheng)或下降后(hou)不(bu)需要對測(ce)(ce)量(liang)單(dan)元進行(xing)校準即(ji)可(ke)(ke)進行(xing)精確測(ce)(ce)量(liang)。

非接觸式測厚儀 ，對冷軋(ya)、熱(re)軋(ya)測(ce)厚儀均適(shi)用(yong)。其測(ce)量(liang)(liang)原(yuan)(yuan)理如激(ji)光測(ce)厚儀原(yuan)(yuan)理所示，該種測(ce)厚儀不(bu)接觸時被測(ce)物的(de)(de)表(biao)面(mian)，實(shi)現無損檢(jian)(jian)測(ce)。可安裝(zhuang)于鋼板的(de)(de)生產(chan)線上，實(shi)時在(zai)線檢(jian)(jian)測(ce)，并將(jiang)測(ce)量(liang)(liang)數(shu)據以數(shu)字(zi)的(de)(de)方式實(shi)時顯(xian)示于顯(xian)示屏上。

多點式測厚儀

多點(dian)(dian)式(shi)測(ce)(ce)厚儀，是在激(ji)光測(ce)(ce)厚儀的(de)支架上(shang)設置(zhi)多組(zu)激(ji)光測(ce)(ce)頭，從而測(ce)(ce)量(liang)多個點(dian)(dian)的(de)鋼(gang)板厚度尺寸，多點(dian)(dian)式(shi)測(ce)(ce)厚儀測(ce)(ce)量(liang)點(dian)(dian)數(shu)是定制的(de)，其(qi)間距也根據(ju)鋼(gang)板的(de)需求進行不同分布測(ce)(ce)量(liang)。

掃描式測厚儀

掃描式(shi)測(ce)(ce)厚儀是將一組激(ji)光測(ce)(ce)頭（如需要可(ke)(ke)定制為多種測(ce)(ce)頭），安裝在可(ke)(ke)進行往(wang)返運動的支架上，支架由步(bu)進電機(ji)驅動，可(ke)(ke)連續不(bu)間斷的做往(wang)返運動，從而帶動激(ji)光測(ce)(ce)頭進行運動，實現(xian)掃描式(shi)測(ce)(ce)量，從而實現(xian)橫向覆蓋式(shi)的測(ce)(ce)量。

總而言之，鋼板的厚度檢測(ce)(ce)可以采用以上幾種測(ce)(ce)厚儀進行檢測(ce)(ce)，1沒有輻射污染，2測(ce)(ce)量精(jing)度高，可為鋼板厚度測(ce)(ce)量提供(gong)實時的數據依(yi)據。

（來源：網站，版權歸原(yuan)作(zuo)者）