Chromatis色(se)散測(ce)(ce)量(liang)系統(tong)可表征用于飛秒脈沖激光(guang)器(qi)的反射和透射光(guang)學(xue)組件的群延遲色(se)散(GDD)特(te)性。超快(kuai)(kuai)脈沖在通過(guo)光(guang)學(xue)系統(tong)傳(chuan)播時會變寬；了(le)解每個光(guang)學(xue)元件引起的GDD并(bing)適當補償失真，可以恢復(fu)短脈沖寬度。為了(le)獲得高(gao)度準(zhun)確(que)和可靠(kao)的結果(guo)，Chromatis使用時域(yu)白光(guang)干涉(she)儀(WLI)來測(ce)(ce)量(liang)GDD。該(gai)色(se)散測(ce)(ce)量(liang)系統(tong)包含軟(ruan)件，可指導(dao)用戶進行光(guang)束對準(zhun)(條紋優化)、自(zi)動找到零(ling)延時位(wei)置(zhi)(條紋對比max.)并(bing)快(kuai)(kuai)速測(ce)(ce)量(liang)色(se)散。

Chromatis色散測(ce)量系(xi)(xi)統具有光(guang)(guang)纖(xian)耦(ou)合的穩(wen)定鹵素光(guang)(guang)源，其有效(xiao)波長(chang)范圍(wei)為500至2100 nm。該寬帶光(guang)(guang)源可(ke)(ke)表(biao)征為用于鈦藍(lan)寶石、摻鐿光(guang)(guang)纖(xian)和(he)摻鉺(er)光(guang)(guang)纖(xian)激(ji)光(guang)(guang)器的超快光(guang)(guang)學(xue)元(yuan)件。由于干涉圖是在(zai)時域中記錄，因此可(ke)(ke)以使用單個光(guang)(guang)電二極管(guan)(guan)探(tan)測(ce)器(而(er)不是光(guang)(guang)譜儀)進(jin)(jin)行(xing)測(ce)量，并且內置的HeNe參考激(ji)光(guang)(guang)器可(ke)(ke)對(dui)波長(chang)軸進(jin)(jin)行(xing)校準。該系(xi)(xi)統包括一個波長(chang)為500-1100 nm的硅(gui)光(guang)(guang)電二極管(guan)(guan)。但是，可(ke)(ke)以很容易地連接InGaAs探(tan)測(ce)器進(jin)(jin)行(xing)1000-1650 nm波長(chang)范圍(wei)內的測(ce)量。

通常(chang)，低色(se)散光(guang)學元件僅需要幾(ji)百飛秒即(ji)可(ke)(ke)捕獲整個干涉(she)圖，因此使用濾(lv)(lv)光(guang)片限制入射光(guang)的(de)波長范(fan)圍常(chang)有(you)助于(yu)(yu)減(jian)少所(suo)需的(de)掃(sao)描范(fan)圍和(he)總體(ti)噪聲。Chromatis色(se)散測量系統具有(you)六個用于(yu)(yu)濾(lv)(lv)光(guang)片的(de)插槽，并且包含覆(fu)蓋500-700 nm、600-1000 nm和(he)950-1100 nm波長范(fan)圍的(de)帶(dai)通濾(lv)(lv)光(guang)片，用于(yu)(yu)與(yu)硅光(guang)電二(er)極(ji)管配合使用。由(you)于(yu)(yu)濾(lv)(lv)光(guang)會降(jiang)低掃(sao)描的(de)整體(ti)強度，因此會降(jiang)低干擾對比度，而光(guang)電二(er)極(ji)管具有(you)可(ke)(ke)變(bian)的(de)增益設置以補償此衰減(jian)。

• 用于測量色散的白光干涉儀
• 穩定鹵素光源的寬帶發射
• 可安裝Ø1/2英寸和Ø1英寸的光學元件
• 標準測量模式，包含夾具和參考光學元件

0°反射

0° - 70°透射

5° - 70°角度反射

• 可選反射鏡對夾具
• 同時測量S偏振和P偏振
• 包含用于波長自校準的HeNe參考激光器
• 包含用于空間對準的紅光和綠光二極管激光器
• 可選兩個用戶可更換的探測器
• 機架式2U柜(3.5英寸面板高度)中包含電子設備
• 由包含的預裝軟件Windows筆記本操作

• InGaAs 檢測器模塊，用于測量至 1650 nm
• 2”光學裝置
• 鏡對夾具
• 用于測量高色散光學器件（例如 AOM 晶體）的硬件
• 范圍擴展到7 或 2.2 微米

確認膜層設計規格

光學元件檢查

質量控制測量