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PDM系列的光(guang)子計(ji)數檢(jian)測器(qi)模塊(kuai)都是由Micro Photon Devices（MPD）設計(ji)和制造的固態儀器(qi)。它們(men)具有(you)良好的光(guang)子檢(jian)測效率(lv)和定時(shi)分辨(bian)率(lv)，這是通過使用(yong)外延(yan)硅單光(guang)子雪(xue)崩(beng)二極管（SPAD）和集成有(you)源淬(cui)火電路(lu)（iAQC）獲得(de)的。SPAD是為時(shi)間分辨(bian)光(guang)子計(ji)數應(ying)用(yong)專門(men)設計(ji)和優化的。
時序分辨率低至(zhi)<50 ps（FWHM）
550 nm時的量(liang)子效率49％
不同的有效面積：20、50和100 µm
高計數率超穩定
時序分辨率低至50 ps
PDM系列SPAD的(de)檢測效率(lv)PDM系列的(de)SPAD生成兩個輸出信(xin)號(hao)-計數(shu)輸出（TTL信(xin)號(hao)）和定時輸出（NIM信(xin)號(hao)），可提供優(you)于50 ps（FWHM）的(de)光子定時分辨率(lv)，適(shi)用于檢測波長。尤其是在470 nm以上，時間響(xiang)應(ying)甚至可以與(yu)MCP-PMT媲美，并且使用快速TCSPC電子設(she)備和合適(shi)的(de)短(duan)脈沖激光器可以達到(dao)大(da)約50 ps的(de)儀器響(xiang)應(ying)功能（IRF）。
不同的有源傳感器區域
帶有FC / PC光(guang)(guang)纖耦(ou)合器的(de)(de)(de)(de)PDM SPAD SPAD的(de)(de)(de)(de)有效(xiao)區域直徑為(wei)20、50或100 µm，具(ju)有不同(tong)的(de)(de)(de)(de)暗計(ji)數等級，可以(yi)提供易于使用(yong)的(de)(de)(de)(de)光(guang)(guang)纖FC / PC連接或zuowei自由光(guang)(guang)束模塊(kuai)。PDM SPAD覆蓋(gai)約400 nm至1000 nm的(de)(de)(de)(de)光(guang)(guang)譜(pu)范(fan)圍，在550 nm的(de)(de)(de)(de)VIS范(fan)圍內具(ju)有高量(liang)子效(xiao)率(lv)。它們非(fei)常(chang)堅固，可以(yi)承受日光(guang)(guang)的(de)(de)(de)(de)持續照(zhao)射。高量(liang)子效(xiao)率(lv)使它們成為(wei)熒光(guang)(guang)相關(guan)光(guang)(guang)譜(pu)（FCS）或熒光(guang)(guang)壽命成像（FLIM）等單(dan)分子應用(yong)的(de)(de)(de)(de)理想檢測器，尤其是SPAD輸出即使在計(ji)數率(lv)超過100萬(wan)計(ji)數/秒時(shi)也具(ju)有穩定的(de)(de)(de)(de)時(shi)序。
光(guang)子檢(jian)測效率（典型(xing)值，不帶FC連接器）
@ 400nm24％
@550 nm49％
@ 650nm37％
光纖連接器損耗：絕對值<20％
單光子定時分辨率
計數輸出，TTL信號（FWHM）：250 ps
定時(shi)輸出，NIM信號（FWHM）：低至50 ps，在(zai)藍色(se)/紫外光譜范圍內(nei)增(zeng)加(jia)
脈沖后概率Max.3％
輸入/輸出
死區時間：77 ns（典型值）
輸出(chu)信號：TTL用于計數輸出(chu)，NIM用于定時輸出(chu)
輸出脈沖的上升和下降時間：在10 pF負載下<2 ns
輸出脈沖持續(xu)時間：20 ns（典型值）
門(men)控(kong)輸入：TTL控(kong)制(zhi)（低(di)電平門(men)檢測(ce)器關閉）
電(dian)源(yuan)輸入：連接(jie)器標(biao)準(zhun)3.5毫米電(dian)源(yuan)插(cha)座
運行條件
電(dian)源(yuan)電(dian)壓(ya)：未穩壓(ya)的DC，任何值5 V–12 V
