由(you)于(yu)多(duo)種原因，SWIR成(cheng)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)儀(yi)(yi)(yi)(yi)（短波(bo)長紅(hong)外）是(shi)監視(shi)(shi)電(dian)(dian)光成(cheng)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)儀(yi)(yi)(yi)(yi)的(de)(de)(de)(de)(de)重要組成(cheng)部分。首先，InGaAs技(ji)術的(de)(de)(de)(de)(de)進步使(shi)設計(ji)成(cheng)本相對(dui)較低的(de)(de)(de)(de)(de)SWIR成(cheng)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)器(qi)成(cheng)為可(ke)(ke)(ke)能(neng)。其次，InGaAs成(cheng)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)儀(yi)(yi)(yi)(yi)非常靈敏，即使(shi)在(zai)漆黑(hei)的(de)(de)(de)(de)(de)夜晚也可(ke)(ke)(ke)以生成(cheng)觀(guan)察到(dao)的(de)(de)(de)(de)(de)風景圖像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)。第(di)三，與在(zai)可(ke)(ke)(ke)見/近紅(hong)外波(bo)段工作的(de)(de)(de)(de)(de)電(dian)(dian)視(shi)(shi)攝像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)機(ji)相比(bi)，SWIR成(cheng)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)儀(yi)(yi)(yi)(yi)更(geng)不容(rong)易受(shou)到(dao)惡(e)劣的(de)(de)(de)(de)(de)大氣條件的(de)(de)(de)(de)(de)影響。第(di)四，即使(shi)使(shi)用(yong)比(bi)用(yong)于(yu)熱(re)(re)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)儀(yi)(yi)(yi)(yi)設計(ji)的(de)(de)(de)(de)(de)光學器(qi)件小得多(duo)的(de)(de)(de)(de)(de)光學元(yuan)件構建，SWIR成(cheng)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)器(qi)也可(ke)(ke)(ke)以生成(cheng)高分辨(bian)率圖像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)。 SWIR成(cheng)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)器(qi)通常使(shi)用(yong)觀(guan)察到(dao)的(de)(de)(de)(de)(de)目(mu)標(biao)(biao)反射的(de)(de)(de)(de)(de)輻射來創(chuang)建這些(xie)目(mu)標(biao)(biao)的(de)(de)(de)(de)(de)圖像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)，類似于(yu)電(dian)(dian)視(shi)(shi)攝像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)機(ji)。 SWIR成(cheng)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)儀(yi)(yi)(yi)(yi)還可(ke)(ke)(ke)以使(shi)用(yong)觀(guan)察到(dao)的(de)(de)(de)(de)(de)目(mu)標(biao)(biao)發出的(de)(de)(de)(de)(de)熱(re)(re)輻射來創(chuang)建這些(xie)目(mu)標(biao)(biao)的(de)(de)(de)(de)(de)圖像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)，例如熱(re)(re)成(cheng)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)儀(yi)(yi)(yi)(yi)。由(you)于(yu)具(ju)有這些(xie)功(gong)能(neng)，可(ke)(ke)(ke)以使(shi)用(yong)測試電(dian)(dian)視(shi)(shi)攝像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)機(ji)的(de)(de)(de)(de)(de)方(fang)法或測試熱(re)(re)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)儀(yi)(yi)(yi)(yi)的(de)(de)(de)(de)(de)方(fang)法來測試SWIR。 InGaAs FPA的(de)(de)(de)(de)(de)參(can)數也可(ke)(ke)(ke)用(yong)于(yu)表征SWIR成(cheng)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)儀(yi)(yi)(yi)(yi)。

Inframet建議通過以下三種方式來表征SWIR成像(xiang)儀(yi)：a）測(ce)量電視攝像(xiang)機的典(dian)型(xing)參(can)數(shu)（分辨(bian)率，最小可(ke)分辨(bian)對比度，MTF，失(shi)真，FOV，靈敏度，SNR，等效噪聲輸入，固定模(mo)式噪聲，不均(jun)勻性），b）測(ce)量熱成像(xiang)儀(yi)的典(dian)型(xing)參(can)數(shu)（MRT，MDT，MTF，NETD，FPN，不均(jun)勻性，畸(ji)變，FOV），c）測(ce)量InGaAs FPA模(mo)塊(kuai)的參(can)數(shu)（平(ping)均(jun)檢測(ce)度，等效噪聲輻照度，動態(tai)范圍(wei)）。

ST測(ce)(ce)試(shi)系統通(tong)常(chang)是可變目標(biao)測(ce)(ce)量系統，它使用一系列不(bu)同的目標(biao)將其圖像(xiang)投(tou)影(ying)到(dao)測(ce)(ce)試(shi)的SWIR成(cheng)(cheng)像(xiang)器的方向。成(cheng)(cheng)像(xiang)器會生成(cheng)(cheng)投(tou)影(ying)圖像(xiang)的變形副本(ben)。成(cheng)(cheng)像(xiang)儀生成(cheng)(cheng)的圖像(xiang)的質量由觀察(cha)員或(huo)軟(ruan)件進(jin)行(xing)評估，并測(ce)(ce)量SWIR成(cheng)(cheng)像(xiang)儀的重要特性。ST測(ce)(ce)試(shi)系統由反(fan)射式(shi)離(li)軸準直儀，寬帶(dai)(dai)光源，中溫黑體，電動(dong)轉(zhuan)輪，一組(zu)目標(biao)，帶(dai)(dai)通(tong)濾波器，PC，圖像(xiang)采集(ji)卡(ka)和測(ce)(ce)試(shi)軟(ruan)件組(zu)成(cheng)(cheng)。