產品中心
產品介紹
APRE干涉儀(yi)(yi) - 標(biao)準和(he)定制 - 提高您的(de)(de)計量能(neng)力，使(shi)您可以滿足(zu)客戶(hu)的(de)(de)需(xu)求。從我們(men)的(de)(de) S 系列干涉儀(yi)(yi)中選擇并(bing)構(gou)建適(shi)合(he)您的(de)(de)系統。
在光學制造方面，不(bu)允許(xu)出現停機或不(bu)準確的(de)情況。具有(you)低成像分辨(bian)率(lv)和過時軟件的(de)干(gan)涉儀會犧牲時間和質(zhi)量，從而削減利潤并損害您(nin)的(de)聲譽。
性能特點
- 1百萬像素 @160 Hz 衍射極限成像
- 10倍虛擬變焦
- 2倍更大的斜率接受度
- 快速、準確的表面和波前測量
技術參數
- 輸出直徑：51 毫米（2 英寸）
- 工作臺的光學中心線：108 毫米（4.25 英寸）
- 對焦范圍：±2米
- 尺寸（長 x 寬 x 高）63 x 29 x 18 厘米（24.8 x 11.4 x 7 英寸）
- 重量：25 公斤（55 磅）
- 對準系統：具有2° 捕獲范圍的十字線的 2 點
- 激光源：穩頻 SLM 633 nm HeNe（多種功率和 λ 選項）
- 激光頻率穩定性：<0.0001納米
- 相干長度：>100米
- 輸出極化：圓
- 相機分辨率：2044 X 2044 像素 [1024 X 1024 像素]
- 數字化：12位
- 安裝配置：水平或垂直
- 溫度：15º C 至 30º C（59º F 至 86º F）
- 濕度：5 至 95% 相對，非冷凝
- 隔振：推薦用于 PSI 和 VTPSI 的隔離系統
產品參數
