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TESCAN顯微鏡S9000G

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  • 品牌名稱:TESCAN
  • 規格型號:S9000G
產品介紹

TESCAN S9000G是一種鎵FIB-SEM系統(tong),旨在進行先進的(de)(de)(de)超薄TEM樣品(pin)制備(bei)(bei)和(he)其他(ta)具(ju)(ju)有(you)挑戰性的(de)(de)(de)制造任務,這(zhe)些任務需要(yao)分辨率以及新(xin)的(de)(de)(de)離子(zi)光學(xue)(xue)和(he)加工(gong)能(neng)力。TESCAN S9000G采用(yong)Triglav SEM柱,具(ju)(ju)有(you)高分辨率和(he)優(you)異的(de)(de)(de)性能(neng),改(gai)進了束內檢(jian)測系統(tong),具(ju)(ju)有(you)過濾電(dian)子(zi)信號收集(ji)功(gong)能(neng),為(wei)新(xin)的(de)(de)(de)對(dui)比度(du)和(he)增強的(de)(de)(de)表面(mian)靈敏度(du)打(da)開了窗(chuang)口(kou)。TESCAN S9000G配備(bei)(bei)Orage FIB柱,不僅在制造精度(du)方面(mian)達到高標準,而(er)且可以使(shi)用(yong)高離子(zi)束電(dian)流;從而(er)使(shi)進行大(da)體(ti)積樣品(pin)分析成(cheng)為(wei)可能(neng)。此外,高達100nA的(de)(de)(de)高離子(zi)束電(dian)流能(neng)夠以優(you)異的(de)(de)(de)對(dui)比度(du)對(dui)生物樣本和(he)材(cai)料進行特(te)定(ding)位置的(de)(de)(de)大(da)體(ti)積FIB-SEM斷層掃描。TESCAN S9000G由新(xin)的(de)(de)(de)Essence軟件接口(kou)控制,該接口(kou)具(ju)(ju)有(you)易于學(xue)(xue)習、面(mian)向應(ying)用(yong)和(he)可定(ding)制的(de)(de)(de)布局,以及具(ju)(ju)有(you)樣品(pin)制備(bei)(bei)自動化功(gong)能(neng)的(de)(de)(de)軟件模塊。所有(you)功(gong)能(neng)都旨在輕松實現(xian)控制和(he)大(da)吞吐量。

性能特點
  • 優異的樣品制備質量
  • 大限度地制備各類樣品
  • 更充分的利用離子束
  • 更加優異的成像能力
  • 快速三維分析功能
  • 增強的表面靈敏度、襯度
技術參數
  • 產地:捷克
  • 電子光學:
  • 電子光學:配備三透鏡復合TriLens物鏡的Triglav柱
  • 電子槍:高亮度肖特基發射極
  • 最大視野:
  • WD Analytical 5 mm時為4.3 mm WD 30 mm時為7.0 mm
  • 電子束能量:使用BDT選項,200 eV至30 keV/降至50 eV
  • 探針電流:2 pA至400 nA
  • 離子光學:
  • 離子柱:Orage Ga-FIB柱
  • 離子槍:Ga液態金屬離子源
  • 離子束能量:0.5 keV至30 keV
  • 探針電流:<1 pA至100 nA
  • 分辨率:30keV時<2.5 nm(在SEM-FIB重合點)
  • SEM-FIB角度:55°
產品應用
  • 半導體器件的物理失效分析
  • 生物標本的FIB-SEM斷層掃描
產品參數

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