Amptek將硅片制造引入(ru)內部，并改進(jin)了(le)工藝。其(qi)結果是探(tan)測(ce)器具有更低的噪聲、更低的泄漏電(dian)流、更好(hao)的電(dian)荷收集以(yi)及探(tan)測(ce)器之間的均勻性(xing)。這(zhe)使其(qi)成為性(xing)能更好(hao)的硅漂移探(tan)測(ce)器。

FAST SDD代表Amptek高(gao)性能(neng)的硅漂移檢測器（SDD），能(neng)夠在保持(chi)分辨率(lv)的同時，計數(shu)率(lv)超過1000000 CPS（每秒計數(shu)）。FAST SDD還可與C系(xi)列(lie)（Si3N4）低能(neng)窗(chuang)一起使用，用于(yu)軟(ruan)x射線分析。

與傳統(tong)SDD不同，FAST SDD在(zai)密封(feng)的(de)(de)(de)(de)(de)TO-8封(feng)裝內(nei)(nei)使(shi)(shi)用(yong)(yong)結柵場(chang)效應晶體管（JFET）和外部前置放大(da)器(qi)(qi)，在(zai)TO-8封(feng)裝內(nei)(nei)部使(shi)(shi)用(yong)(yong)互補的(de)(de)(de)(de)(de)金屬氧化物(wu)半導體（CMOS）前置放大(da)器(qi)(qi)，并用(yong)(yong)金屬氧化物(wu)半導體場(chang)效應管（MOSFET）代替JFET。這降低(di)(di)了電容，提供(gong)了更(geng)(geng)低(di)(di)的(de)(de)(de)(de)(de)串(chuan)聯噪聲，并在(zai)極短(duan)的(de)(de)(de)(de)(de)峰(feng)值時間(jian)內(nei)(nei)提高了分辨(bian)率(lv)(lv)。FAST SDD使(shi)(shi)用(yong)(yong)相(xiang)同的(de)(de)(de)(de)(de)檢(jian)測器(qi)(qi)，但前置放大(da)器(qi)(qi)在(zai)短(duan)峰(feng)值時間(jian)內(nei)(nei)提供(gong)較低(di)(di)的(de)(de)(de)(de)(de)噪聲。改進的(de)(de)(de)(de)(de)（較低(di)(di)的(de)(de)(de)(de)(de)）分辨(bian)率(lv)(lv)能夠隔(ge)離/分離具有接近能量值的(de)(de)(de)(de)(de)熒(ying)光X射線，否則(ze)峰(feng)值將重疊(die)，從而允(yun)許用(yong)(yong)戶(hu)更(geng)(geng)好地識別其樣品(pin)中的(de)(de)(de)(de)(de)所有元素。峰(feng)值時間(jian)短(duan)也會(hui)提高計數(shu)率(lv)(lv)；更(geng)(geng)多的(de)(de)(de)(de)(de)計數(shu)提供(gong)更(geng)(geng)好的(de)(de)(de)(de)(de)統(tong)計數(shu)據(ju)。

• 25 mm²的活動面積校準為17 mm²
• 也可提供70 mm²準直至50 mm²
• 9 keV時的122 eV FWHM分辨率
• 計數率>1000000 CPS
• 高峰值與背景比–26000/1
• 前置放大器輸出上升時間<35 ns
• 窗口：Be（5密耳）12.5µm，或C系列（Si3N4）
• 抗輻射
• 探測器厚度500µm
• TO-8包裝
• 冷卻ΔT>85 K
• 多層準直器

• 探測器類型：帶CMOS前置放大器的硅漂移檢測器（SDD）
• 探測器尺寸：25 mm²-校準至17 mm²，也可提供70mm²-準直至50mm²
• 硅厚度：500µm或1000um可用
• 準直器內部：多層準直器（ML）
• 4µs峰值時間下5.9 keV（55Fe）：122-129 eV FWHM時的能量分辨率（保證）
• 峰值與背景：20000:1（計數比從5.9 keV到1 keV）（典型）
• 探測器窗口選項：鈹（Be）：0.5密耳（12.5µm）或0.3密耳（8µm），C系列（Si3N4）低能耗窗戶
• 電荷敏感型前置放大器：CMOS
• 增益穩定性：<20 ppm/°C（典型）
• 總功率：<2瓦
• 設備壽命：通常為5至10年，具體取決于使用情況
• 操作條件：-35°C至+80°C
• 長期儲存：在干燥環境中儲存10年以上
• 典型儲存和運輸：-40°C至+85°C，濕度10至90%，不凝結
• 產地：美國

-尺寸

• 探測器模塊：TO-8封裝（0.640英寸高，包括銷，0.600英寸直徑）
• XR100盒：3.00 x 1.75 x 1.13英寸（7.6 x 4.4 x 2.9厘米）
• X-123箱：3.94 x 2.67 x 1.0英寸（10.0 x 6.78 x 2.54厘米）
• 原始設備制造商：配置各不相同

-重量

• 探測器模塊：0.14箱（4.1克）
• XR100盒：4.4盎司（125克）
• X-123箱：6.3盎司（180克）
• 原始設備制造商：配置各不相同

• 超快速臺式和手持式XRF分析儀
• 作為EDS系統的一部分，在SEM中掃描/繪制樣品
• 在線過程控制
• X射線分揀機
• OEM