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Arden Photonics干涉儀VFI-2000

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產品介紹

VFI是(shi)世(shi)界各地行業(ye)的光(guang)(guang)子學(xue)公(gong)司的理想干涉(she)儀。VFI-2000是(shi)一種干涉(she)檢測系統,專門(men)用(yong)于檢查切割或拋光(guang)(guang)光(guang)(guang)纖(xian)的表面(mian)質量和(he)(he)平(ping)面(mian)度。VFI將高的圖(tu)像質量與易用(yong)性(xing)以(yi)及我們(men)的客戶對(dui)Arden產(chan)品的可靠性(xing)和(he)(he)穩健性(xing)結合,從而實現您可以(yi)信賴的光(guang)(guang)纖(xian)端(duan)面(mian)測量。使用(yong)VFI,用(yong)戶可以(yi)在一系列不同的視圖(tu)中查看光(guang)(guang)纖(xian),包括2D和(he)(he)3D視圖(tu),讓用(yong)戶能(neng)夠充分了解其切割或拋光(guang)(guang)過程。因(yin)此,它已經證明(ming)自己非常適合研究、生產(chan)或QA環(huan)境。

性能特點
  • 3種不同的視野
  • 平面和斜角解理
  • 檢查和條紋模式
  • 自動或手動端角測量
  • 2D或3D測量模式
  • 三維端面高度圖
  • 2D測量-實時;三維測量
  • 7秒以下
  • 高度數據可以保存為csv文件
  • 數據輸出為Excel或HTML報告
技術參數

產地:英國

視野:max.2000µm,帶x1.5、x2、x3和x6數字變焦

圖像傳感器:1/1.8英寸CMOS陣(zhen)列,12位,6.4MP

攝像頭(tou)傳感器(qi)尺寸:3088 x 2076像素,2.4µm平方像素

LED波長(chang):525 nm

可測量(liang)解理角(不使用(yong)傾斜(xie)光纖支架(jia))

2D模式:8°

3D模式:4°

測量時間

2D模式:實時

3D模式:<7 s

高度分辨率:0.01µm

尺(chi)寸:240(寬)x 240(深(shen))x 90(高)mm

重量:3 kg

連(lian)接到(dao)計算(suan)機(ji):USB 3.0(USB類型(xing)B到(dao)USB A;提供1米電(dian)纜)

供電:通(tong)過USB供電

操作系統:支持Windows 7/8/10 64位

計算機要求:4GB RAM;USB 3.0端口;64位

工(gong)作溫度:10–30°C

產品應用

切割機制造

切割機維護

激光制造

光纖(xian)研(yan)發、專(zhuan)業光纖(xian)制造

斜角切肉刀的開發和測試

裝置清管器尾礦

LDF切割機制(zhi)造/維護

光纖端蓋制造

多光纖束制造

產品參數

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