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X 射(she)線(xian)單色儀是(shi)(shi)一種彎曲單晶元件，可有效(xiao)聚焦(jiao) X 射(she)線(xian)輻射(she)。多(duo)年來，人(ren)們一直知道彎曲晶體(ti)(ti)的(de)特性，并將其(qi)用于(yu)(yu)聚焦(jiao)和分析 X 射(she)線(xian)。從根本上(shang)說，這些光學元件是(shi)(shi)通過衍射(she)滿足布拉格條(tiao)件的(de) X 射(she)線(xian)來工作的(de)、 n λ = 2 d sin ( θB )，其(qi)中 n 是(shi)(shi)整數，λ 是(shi)(shi)波長，d 是(shi)(shi)相(xiang)鄰晶格平面(mian)之間的(de)間距，θB 是(shi)(shi)以(yi)晶體(ti)(ti)平面(mian)為(wei)基準的(de)布拉格角。通過在(zai)兩個方(fang)向上(shang)彎曲晶體(ti)(ti)平面(mian)以(yi)形(xing)成(cheng)環形(xing)表面(mian)，可以(yi)在(zai)矢狀(zhuang)方(fang)向和切線(xian)方(fang)向上(shang)聚焦(jiao)，同時(shi)將偏差降到很低。這些組件的(de)應用包括同步(bu)輻射(she)光束線(xian)的(de)高能量分辨率(lv)分析儀、分析化學儀器以(yi)及熱稠密等離(li)子體(ti)(ti)的(de)光譜和成(cheng)像--常見的(de)是(shi)(shi)用于(yu)(yu)核聚變研究設施的(de)目(mu)標診斷(duan)。
光學接觸式(shi)晶體確保無排氣(qi)
準確拋光的曲率，斜率誤(wu)差小，晶體(ti)高(gao)度保形(xing)
晶體取向驗證小于 2 弧秒
通過 X 射(she)線地形圖識別和剔除位錯(cuo)、應變和表(biao)面(mian)下損傷
真空兼容性
光斑尺寸小
高衍射和高 X 射線通量
均勻的衍射強度曲線
產地：美國
衍射晶體(ti)：石(shi)英、硅、鍺、鈮酸鋰、lnAs、KAP，以及(ji)其他(ta)可定制(zhi)的材料(liao)
表面形(xing)(xing)(xing)狀：環形(xing)(xing)(xing)、橢圓(yuan)形(xing)(xing)(xing)、非球(qiu)面、圓(yuan)柱(zhu)形(xing)(xing)(xing)、圓(yuan)錐(zhui)形(xing)(xing)(xing)和球(qiu)形(xing)(xing)(xing)
基底(di)材(cai)料：N-BK7、耐熱玻璃(li)和鋁
裝配尺寸：直徑可(ke)達 250 mm
裝配(pei)特征：缺口(kou)、凹(ao)槽和插入件(jian)便于集成和校準
方向精度(du)：絕對(dui)精度(du)達 ±10 弧(hu)秒(miao)；相對(dui)精度(du)達 ±2 弧(hu)秒(miao)
斜(xie)度(du)誤(wu)差：在 633 納米波長下到每英寸λ/4
半徑公差：準確度在(zai) 1%以內(nei)，環形(xing)結構的 Rv/Rh 比率控制在(zai)小數點后(hou)幾位(wei)。
測量方法：X 射線成像(xiang)計量法
厚度：通常小于 100 μm
是否可彎曲(qu)：可輕(qing)松彎曲(qu)
同步輻射光束線(xian)的高能量分辨率(lv)分析(xi)儀、分析(xi)化學儀器(qi)以(yi)及熱稠密等離子(zi)體的光譜和成(cheng)像、用于核聚變研究設(she)施(shi)的目標(biao)診(zhen)斷
