PAL 激(ji)(ji)(ji)(ji)光(guang)(guang)系(xi)統(tong)(tong)采(cai)用(yong)(yong)模(mo)塊化設計，以(yi)準確而簡單的(de)(de)閃光(guang)(guang)燈泵(beng)浦(pu)固體光(guang)(guang)源為(wei)基(ji)礎，具(ju)有高可(ke)(ke)(ke)靠性(xing)和(he)多功(gong)能性(xing)。它的(de)(de)維護成本低。自 1989 年以(yi)來售出的(de)(de)幾乎(hu)所(suo)有 PAL激(ji)(ji)(ji)(ji)光(guang)(guang)系(xi)統(tong)(tong)至今仍在(zai)生產運行，Light Age 的(de)(de)大多數 OEM 激(ji)(ji)(ji)(ji)光(guang)(guang)系(xi)統(tong)(tong)也(ye)是(shi)如(ru)此。PAL 激(ji)(ji)(ji)(ji)光(guang)(guang)系(xi)統(tong)(tong)以(yi)堅固耐(nai)用(yong)(yong)的(de)(de)可(ke)(ke)(ke)調諧固體激(ji)(ji)(ji)(ji)光(guang)(guang)介質(zhi)--變(bian)石（Cr±:BeAl2O4）為(wei)基(ji)礎，可(ke)(ke)(ke)連(lian)續調諧或以(yi)任何(he)固定波(bo)長運行。PAL 激(ji)(ji)(ji)(ji)光(guang)(guang)系(xi)統(tong)(tong)可(ke)(ke)(ke)在(zai) 720 nm到(dao) 800 nm的(de)(de)基(ji)本波(bo)長范(fan)圍內產生峰值功(gong)率和(he)平均功(gong)率都(dou)很高的(de)(de)光(guang)(guang)。

堅固耐用

可調諧固體激光介質

可連續(xu)調諧以任何固定波(bo)長運行

720 nm到 800 nm的(de)基本波長范圍

維護成本低

可選線寬：=< 0.5 nm

通過 PAL/PRO縮小(xiao)

可選 DLIS =< 100 Mhz

可選(xuan) SLM =< 10 Mhz

可選脈沖持(chi)續時間PTM =< 6 ns；建模(mo)時間 100 - 500 ps

可選外(wai)部冷(leng)卻：水 - 至 - 水

可選電源：單(dan)相(xiang)：240 V, 50 Hz, 30 - 60 Amp

可選尺寸：控制(zhi)臺(tai)151.5 x 56.5 x 79 cm；激(ji)光(guang)頭(tou)27 x 22 x 153 cm

產地：美國

調諧(xie)范圍(wei)：標稱波長 720 -800 nm；諧(xie)波：2 次(ci) 360 - 400 nm；3 次(ci) 240-266 nm；4 次(ci) 192- 200 nm

線寬：=< 0.3 nm

脈(mo)沖(chong)能量：僅振(zhen)蕩器(qi)可達(da) 500 mJ；帶放大器(qi)，高達(da) 1 焦耳(er)

脈沖(chong)持(chi)續時間：長脈沖(chong) 120 秒；Q 開關 15 - 100 ns

極化：線性

空間模式(shi)：TEMoo 或高度多模式(shi)選項

脈(mo)沖速率：10 - 30 Hz

外部冷卻(que)：水 - 至 - 空氣

尺寸(標稱(cheng)尺寸）：控制臺 125 x 56.5 x 79 cm；激光頭 27 x 22 x 123 cm

用(yong)戶界面：計算機用(yong)戶界面

電力要求：三相：208 伏，60 赫茲，30 安培/相

光(guang)(guang)譜(pu)學(xue)、大(da)氣激(ji)光(guang)(guang)雷(lei)達、激(ji)光(guang)(guang)雷(lei)達、光(guang)(guang)聲成像、燃燒診斷、光(guang)(guang)刻技術、照明、納米管(guan)制(zhi)(zhi)造(zao)、痕量(liang)元素檢測(ce)(ce)、材料加工、激(ji)光(guang)(guang)干涉(she)儀、光(guang)(guang)纖(xian)布拉格光(guang)(guang)柵、計量(liang)、汞檢測(ce)(ce)、非線(xian)性過程、光(guang)(guang)化(hua)(hua)學(xue)、等離子(zi)(zi)體診斷、光(guang)(guang)纖(xian)測(ce)(ce)試(shi)、激(ji)光(guang)(guang)磨(mo)損測(ce)(ce)試(shi)、量(liang)子(zi)(zi)態制(zhi)(zhi)備、LED 開發、海洋(yang)學(xue)、晶片測(ce)(ce)試(shi)、全息技術、污染物(wu)(wu)監測(ce)(ce)、分析化(hua)(hua)學(xue)、對(dui)峙檢測(ce)(ce)、卡西(xi)亞、LIF、射彈跟(gen)蹤、通信研發、T 型跳躍測(ce)(ce)量(liang)、干涉(she)測(ce)(ce)量(liang)、多光(guang)(guang)譜(pu)成像、化(hua)(hua)學(xue)動力學(xue)、光(guang)(guang)物(wu)(wu)理學(xue)、過程控制(zhi)(zhi)