ProMetric I 成像測(ce)(ce)(ce)色計專為(wei)滿足顯(xian)示器、背光(guang)(guang)(guang)組件、光(guang)(guang)(guang)源(yuan)和(he)(he)設備(bei)組件的(de)大批量(liang)生產(chan)需(xu)求而設計。ProMetric I 采用基于標(biao)準(zhun)(zhun) CIE 色彩(cai)匹配功能的(de)三基色濾光(guang)(guang)(guang)片技術(shu)，可為(wei)實驗室測(ce)(ce)(ce)試和(he)(he)生產(chan)級檢測(ce)(ce)(ce)提供(gong)高度準(zhun)(zhun)確的(de)色彩(cai)和(he)(he)亮度測(ce)(ce)(ce)量(liang)。ProMetric I 采用科學級圖像傳(chuan)感器設計，有(you)一系(xi)列(lie)(lie)高分辨率(lv)可供(gong)選擇。這(zhe)些傳(chuan)感器可對顯(xian)示器（LCD、OLED）進(jin)(jin)行像素級測(ce)(ce)(ce)量(liang)，對背光(guang)(guang)(guang)鍵(jian)盤和(he)(he)面(mian)板(ban)進(jin)(jin)行字符間和(he)(he)字符內(nei)亮度測(ce)(ce)(ce)量(liang)，以(yi)及(ji)對燈具或大型 LED 陣(zhen)列(lie)(lie)中的(de) LED 亮度和(he)(he)色彩(cai)進(jin)(jin)行準(zhun)(zhun)確測(ce)(ce)(ce)量(liang)。

針對速度、分辨率和(he)測(ce)量精度進(jin)行了優化

提供(gong)與(yu)人類視(shi)覺感知準確(que)相關的色彩和光線測(ce)量結果

三基色(se)濾光片(pian)，與(yu) CIE 色(se)彩(cai)匹(pi)配功能接近

多種鏡頭選擇，可進行智能校準，適用(yong)于各(ge)種焦距和光圈設置(zhi)

靈活的(de)系統(tong)，能夠解(jie)決(jue)照(zhao)明和非照(zhao)明組件的(de)多種應用問題(ti)

與 TrueTest 自動(dong)視(shi)覺檢測軟件和專用軟件包無縫集成

可(ke)選焦距：24、35、50、100、200 mm

可選 ND 濾光片

產地：美國

主要用途：均勻性測試(shi)、研發

傳感器像素分辨率：1600 x 1200

傳感器像素：1.9

傳感器類型：CCD

系(xi)統動態范圍（單次曝光，每個像素(su)）：59 dB（1 x 1 分(fen)檔）

亮度（Min）：0.00001 cd/m² 檢測Max；0.0001 cd/m² @ SNR = 60；0.0005 cd/m² @ SNR = 100

亮度（Max）：10¹⁰ cd/m² 

系統精度(du)(du)：亮(liang)度(du)(du) ± 3%；亮(liang)度(du)(du) (Y) ± 3%；色坐標(biao) (x,y) ± 0.003

短期重復(fu)性：照度(du) ± 0.02%；亮度(du) (Y) ± 0.02%；色彩(cai)坐標 (x,y) ± 0.00005

鏡頭類(lei)型：電子控制焦距和光(guang)圈

視場角（全角，H x V 度(du)）：24 mm 20° x 15°；35 mm 14° x 10°；50 mm 10° x 8°；100 mm微(wei)距 5° x 4°；200 mm 3° x 2°

Min測量(liang)時間：0.3 秒 - 光學；1.1 秒 - 彩色

空間測量(liang)能(neng)力：亮度(du)、輻射度(du)、照度(du)、輻照度(du)、光(guang)強、輻射強度(du)、CIE 色度(du)坐標(biao)、L*a*b* 色標(biao)、相關色溫(wen) (CCT)、主波長

通信接口：以太網 100/1000、USB 2.0

電源：100-240 V，50-60 Hz，140 W

液晶觸(chu)摸屏：分辨率：800 x 600；對角(jiao)線：125 mm

尺寸（高 x 寬 x 深）：238 x 181 x 230 mm

重量：4.9 kg

工(gong)作溫度：0 - 30°C

工(gong)作濕度：20 - 70% 無冷(leng)凝

顯示器的(de)色彩和(he)亮度測試(shi)(shi)、LED 產品(pin)的(de)光測量(liang)和(he)表(biao)征(zheng)、照(zhao)明儀表(biao)盤(pan)和(he)鍵盤(pan)的(de)外觀均(jun)勻性測試(shi)(shi)、