ProMetric Y是一系列性能(neng)成(cheng)像光度計(ji)，專為顯示器、鍵(jian)盤、照明產品、設(she)備(bei)組(zu)件和表面的大批量生產測試而(er)設(she)計(ji)。ProMetric Y成(cheng)像光度計(ji)將科學級圖像傳感器與光濾波(bo)器相結合，光濾波(bo)器根據(ju)CIE函數捕獲反映標(biao)準人類視(shi)覺亮(liang)度感知的光值。這(zhe)種組(zu)合使您能(neng)夠應用(yong)(yong)用(yong)(yong)戶的視(shi)覺靈敏(min)度，同時利用(yong)(yong)自動(dong)化(hua)的優勢——速度、可(ke)重復(fu)性和降低的成(cheng)本——進行生產級檢查。

ProMetric Y提供(gong)一(yi)系(xi)列高分辨率傳感(gan)器選項(xiang)。這些傳感(gan)器能夠對顯(xian)示器（LCD、OLED、microLED）進行像素級測量，評估可變距離(li)和視(shi)場(chang)下的虛擬(ni)投影（平視(shi)顯(xian)示器、增強現實），并準(zhun)確測量發光組件的亮(liang)度。

• 高速：短測量時間（感光）可達5秒
• 高分辨率傳感器選項
• 可用于光度和輻射模型
• 多種鏡頭選項：24毫米、35毫米、50毫米R、100毫米和200毫米
• ProMetric控制和分析軟件是標準軟件。TrueTest自動視覺檢測軟件和其他可選軟件模塊。

產地：美國

傳感器像素分(fen)辨率：5312 x 3032

傳感器百萬像素：16.1

傳感(gan)器類型：CMOS

系統(tong)動態范圍(wei)（單次曝光，每像素）：70 dB（1 x 1裝倉）

亮度（MIN）：

0.0005 cd/m2檢測限

0.0010 cd/m2@信噪比(bi)=60

0.0015 cd/m2@信噪比(bi)=100

亮度（MAX）：1010 cd/m2，帶可選ND濾(lv)光片

系(xi)統精度：照度±3%；亮度（Y）±3%

短(duan)期(qi)重復性(xing)：照度±0.03%；

亮度（Y）±0.03%

鏡頭類型：電子控制焦距(ju)和光圈

可(ke)用焦距：35、50、100毫米

視野(ye)（全角度(du)，H x V度(du)）

35毫米24°x 14°

50毫米17°x 10°

100 mm宏觀8°x 5°

測(ce)量時間：min.0.5秒

空間測量(liang)能力：亮度(du)(du)、輻射度(du)(du)、照度(du)(du)、輻照度(du)(du)、發光強度(du)(du)、輻射強度(du)(du)

通信(xin)接(jie)口：以太網1000

單位：foot-lambert、cd/m2、nit、W/sr/m2、foot-candles、lux、lux-s、W/m2、W-s/m2、坎(kan)德(de)拉、W/sr

電源：外部交流(liu)/直流(liu)適配器(qi)，100-240伏，50-60赫茲，60瓦

尺寸（高(gao)x寬x深）：86毫米x 86毫米x 170毫米

重量：1.1公斤

工作溫度：5-35°C

工作濕(shi)度：20-70%非冷凝(ning)

顯示器測試

ProMetric Y成(cheng)像光(guang)度(du)計用于準確測量顯示(shi)器上的光(guang)質量，它客觀(guan)地量化(hua)了空間亮度(du)、對(dui)比度(du)和均勻度(du)值，以及mura、漏光(guang)、死像素、線條和粒子等缺(que)陷(xian)。

ProMetric Y具有高的高分辨率(lv)傳感器(qi)選項，非常適合在(zai)(zai)像(xiang)(xiang)素和(he)(he)子像(xiang)(xiang)素處捕捉測(ce)量值，以進行光輸出表征(zheng)。在(zai)(zai)微型LED、迷(mi)你LED和(he)(he)OLED等發(fa)(fa)射(she)型顯(xian)(xian)示(shi)器(qi)中(zhong)，獨(du)立發(fa)(fa)射(she)的像(xiang)(xiang)素可能因像(xiang)(xiang)素而異，導致亮度(du)或顏(yan)色不均(jun)勻(yun)，在(zai)(zai)不同的顯(xian)(xian)示(shi)器(qi)亮度(du)狀(zhuang)態下會惡化(hua)。在(zai)(zai)一次測(ce)量中(zhong)，ProMetric Y在(zai)(zai)數千個(ge)發(fa)(fa)射(she)像(xiang)(xiang)素上準確(que)詳細(xi)地測(ce)量整個(ge)顯(xian)(xian)示(shi)器(qi)，獲取(qu)顯(xian)(xian)示(shi)器(qi)中(zhong)每個(ge)像(xiang)(xiang)素的值。

背光符號

與TrueTest軟件配對的(de)(de)ProMetric Y會(hui)自(zi)動(dong)將(jiang)分析區域應用于unique的(de)(de)符(fu)號(hao)（無論(lun)是字母數字還是其他形狀）。閾值可以應用于允許符(fu)號(hao)集的(de)(de)離散(san)測(ce)量的(de)(de)目標亮度值。評估符(fu)號(hao)亮度、字符(fu)間和字符(fu)內的(de)(de)均勻性，以及相鄰表(biao)面上符(fu)號(hao)的(de)(de)光泄漏或反射。

外觀表面缺陷

ProMetric Y對光線的(de)細微(wei)波動(dong)(dong)進行(xing)光度評估，可用于反射(she)和(he)對比度變化指示缺(que)(que)陷的(de)表(biao)面(mian)的(de)自動(dong)(dong)目視(shi)檢查。使(shi)用高分辨率和(he)動(dong)(dong)態范圍，ProMetric Y可以對細微(wei)的(de)劃痕(hen)、凹痕(hen)、缺(que)(que)失或扭曲的(de)元素、碎片和(he)顆粒、污跡和(he)整(zheng)體表(biao)面(mian)均(jun)勻(yun)性進行(xing)分類(lei)，并為可接受的(de)缺(que)(que)陷類(lei)型和(he)嚴重程度應(ying)用公差(cha)。