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GL16光(guang)纖端(duan)面幾何形狀測(ce)量儀器使用非(fei)常簡單，能夠(gou)測(ce)量單芯和(he)多芯接(jie)頭的(de)(de)(de)端(duan)面幾何形狀，并對(dui)其(qi)成像。它采(cai)用非(fei)接(jie)觸(chu)式白光(guang)掃描干(gan)涉(she)技術(SWLI)，能夠(gou)提供高準確度、高重復性和(he)高可(ke)靠性的(de)(de)(de)光(guang)纖接(jie)頭測(ce)試，尤其(qi)適合(he)根據IEC或Telcordia標準進行(xing)的(de)(de)(de)合(he)格/不合(he)格測(ce)試。系(xi)統既可(ke)以通過觸(chu)摸屏進行(xing)本地(di)控制，又可(ke)以通過基于(yu)瀏覽器的(de)(de)(de)應用程序實(shi)施遠程操作，易于(yu)集(ji)成到生產車間。
所有系統(tong)組件完全集成(cheng)在(zai)封閉的(de)(de)外殼(ke)中。寬(kuan)帶寬(kuan)570 nm LED光源配合(he)邁(mai)克(ke)爾遜干(gan)涉(she)物鏡(jing)使用(yong)，測(ce)量(liang)間隔高(gao)度(du)變化高(gao)達35 μm的(de)(de)相(xiang)移。壓(ya)電位(wei)移臺相(xiang)對于接(jie)頭(tou)移動(dong)干(gan)涉(she)物鏡(jing)，并使用(yong)高(gao)分(fen)辨率(lv)相(xiang)機收集所產(chan)生(sheng)的(de)(de)干(gan)涉(she)圖(tu)案。然后(hou)生(sheng)成(cheng)接(jie)頭(tou)表面的(de)(de)3D高(gao)度(du)圖(tu)，并利用(yong)2.2 µm的(de)(de)橫向(xiang)分(fen)辨率(lv)和1.1 nm的(de)(de)高(gao)度(du)分(fen)辨率(lv)計(ji)算光纖幾何(he)形狀參(can)數。白光干(gan)涉(she)法還能夠表征凹陷或突出(chu)的(de)(de)光纖，而這一點在(zai)使用(yong)單(dan)色干(gan)涉(she)儀時可能會被忽略。
附(fu)帶的GL16M4 MT型安(an)(an)裝夾(jia)具有助于實(shi)現一次8秒測(ce)量12芯每行的插芯中(zhong)max.72根光(guang)纖。換(huan)出附(fu)帶的夾(jia)具，GL16還(huan)可(ke)測(ce)量其他光(guang)纖類型和(he)接頭(tou)類型。請根據待測(ce)接頭(tou)類型和(he)光(guang)纖數量在下(xia)方選擇合適的安(an)(an)裝組件。
- 3D干涉儀，用于測量端面幾何形狀
- 非接觸式閉環壓電白光掃描干涉技術(SWLI)
- 完全符合IEC和Telcordia等行業規范
- 兼容所有主要的接頭類型(請看下表)
- NIST可追蹤標準，用于放大倍率和偏轉位移臺的校準
- 集成的觸摸屏上提供完整的掃描信息，測量時間≤8 s(典型值)
- 基于瀏覽器的應用程序，支持遠程訪問操作
- 導出為.CSV格式的數據，SQL數據庫或掃描報告
