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GL16光纖端面(mian)幾何形(xing)狀(zhuang)測量(liang)儀(yi)器使用非常簡(jian)單，能夠(gou)測量(liang)單芯和(he)多(duo)芯接(jie)頭的(de)端面(mian)幾何形(xing)狀(zhuang)，并(bing)對其成像。它采用非接(jie)觸(chu)(chu)式白光掃描(miao)干涉(she)技術(SWLI)，能夠(gou)提(ti)供高(gao)準確度、高(gao)重復性(xing)和(he)高(gao)可(ke)靠(kao)性(xing)的(de)光纖接(jie)頭測試，尤其適合根據IEC或(huo)Telcordia標(biao)準進行的(de)合格/不合格測試。系(xi)統(tong)既(ji)可(ke)以通(tong)過觸(chu)(chu)摸(mo)屏進行本地控制，又可(ke)以通(tong)過基(ji)于瀏覽器的(de)應用程序實施遠程操(cao)作，易于集成到(dao)生產(chan)車間。
所(suo)(suo)有系統組件完全集(ji)成(cheng)在封閉的外殼中。寬帶寬570 nm LED光(guang)源配合(he)邁(mai)克爾遜干涉(she)物(wu)鏡(jing)使用，測量(liang)間隔高(gao)度變化高(gao)達35 μm的相移(yi)。壓電位移(yi)臺相對于接頭移(yi)動(dong)干涉(she)物(wu)鏡(jing)，并使用高(gao)分辨(bian)率(lv)相機(ji)收集(ji)所(suo)(suo)產生(sheng)的干涉(she)圖(tu)案(an)。然后生(sheng)成(cheng)接頭表(biao)面(mian)的3D高(gao)度圖(tu)，并利用2.2 µm的橫(heng)向分辨(bian)率(lv)和1.1 nm的高(gao)度分辨(bian)率(lv)計算光(guang)纖幾何(he)形(xing)狀參數。白光(guang)干涉(she)法還能夠表(biao)征凹陷(xian)或突出的光(guang)纖，而這一點(dian)在使用單色干涉(she)儀時可(ke)能會被忽略。
附帶的(de)GL16M4 MT型安(an)裝夾具有(you)助于實現一次(ci)8秒(miao)測量(liang)12芯每行(xing)的(de)插芯中max.72根光(guang)纖(xian)。換出附帶的(de)夾具，GL16還(huan)可測量(liang)其他光(guang)纖(xian)類(lei)型和(he)接頭類(lei)型。請(qing)根據待測接頭類(lei)型和(he)光(guang)纖(xian)數量(liang)在下方選擇合(he)適的(de)安(an)裝組件。
- 3D干涉儀，用于測量端面幾何形狀
- 非接觸式閉環壓電白光掃描干涉技術(SWLI)
- 完全符合IEC和Telcordia等行業規范
- 兼容所有主要的接頭類型(請看下表)
- NIST可追蹤標準，用于放大倍率和偏轉位移臺的校準
- 集成的觸摸屏上提供完整的掃描信息，測量時間≤8 s(典型值)
- 基于瀏覽器的應用程序，支持遠程訪問操作
- 導出為.CSV格式的數據，SQL數據庫或掃描報告
