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VT750是(shi)用(yong)于(yu)生產(chan)、質量檢驗和(he)計量實驗室環境的干(gan)涉(she)儀(yi)塔。此(ci)外，還(huan)提(ti)供“tower only”版本“B”，用(yong)于(yu)集成現(xian)有或第三方干(gan)涉(she)儀(yi)單元，或配(pei)備ZYGO Verifire和(he)ZYGO MX條(tiao)紋分(fen)析(xi)軟件的版本“Z”。該系統(tong)可以(yi)配(pei)備PC桌、2個屏(ping)幕(mu)、鼠標和(he)鍵盤，也可以(yi)配(pei)備內置(zhi)PC和(he)觸摸面板(ban)，以(yi)優化操(cao)作(zuo)并(bing)更(geng)大(da)限度地(di)減少生產(chan)環境中的空間需(xu)求。
- 天然花崗巖柱具有非常平坦和準確的導向表面，便于使用，可以非常準確地測量光學元件的曲率半徑
- 高精度和準確的線性標尺，具有高的分辨率，直接與條紋分析軟件連接
- 測量臺在空氣軸承滑塊上平衡和導向，便于快速、簡單、準確地設置和移動
- 占地面積小，價值非凡，結合高精度和剛性，免維護設計
- 堅固的減振系統，非常適合工業生產環境
- XONOX X-fiz 100（4英寸）或X-fiz 130（5.2英寸）高性能斐索干涉儀，可電子控制光學變焦（1x至10x）、聚焦和對比度
- 創新、強大、用戶友好的條紋分析系統X-fringe²，具有不同的智能和智能模式，可適應各種應用
- 從具有靜態條紋分析的低成本“ST”版本到高性能“PS2”相移版本進行選擇
VT750 ST：配(pei)備XONOX X-fiz 100（4英寸）/X-fiz 130（5.2英寸），帶10倍(bei)光學(xue)變焦和(he)靜態條紋分(fen)析系統(tong)XONOX“X-fringe ST”
VT750 PS2：配備(bei)XONOX X-fiz 100（4英寸）/X-fiz 130（5.2英寸），帶10倍光學變焦，相移條紋分析(xi)系統(tong)XONOX“X-frige²”和壓電移相器XONOX”X-phase PMR“
VT750 Z：帶ZYGO Verifire 4“或6”干涉儀單元和(he)Mx相移條(tiao)紋分析
VT750 B：用于(yu)集成現有干涉儀單元(yuan)的“tower only”版本。
可選配XONOX條紋分(fen)析(xi)系(xi)統(tong)X-fringe²ST或帶(dai)X相PMR移相器的X-fridge²PS。
產地：美國
行(xing)程范圍：max.750mm（800mm線性刻(ke)度范圍）
測試直徑：max.200mm（取決于(yu)使用的TS和零件支(zhi)架）
測量(liang)系統：帶PC接(jie)口和溫(wen)度擴展補償(chang)功能的(de)增量(liang)高精度線性測量(liang)系統（標準(zhun)）/可(ke)選(xuan)激光放電測量(liang)系統（可(ke)選(xuan)）
測量精度：20°C時每500mm高達(da)+/-0.7μm
分辨率：高達0.1µm（標準(zhun)0.5µm）
尺寸（寬x深x高）：800 x 900 x 2100 mm
（如(ru)果使(shi)用PC進行條紋分析，則(ze)需要(yao)額外的(de)空間(jian)，XONOX PC臺可(ke)選）
連接：10-240V/50-60Hz
壓縮空氣：6bar
重量：約500kg
顏色：淺灰色RAL 7035
