Polatis的(de)6000i系(xi)列(lie)(lie)儀器光(guang)開關是一(yi)種高(gao)性(xing)(xing)(xing)能(neng)(neng)、完全(quan)無阻塞的(de)全(quan)光(guang)矩陣開關,尺寸(cun)從8x8到(dao)192x192不等(deng)。它旨在滿足苛刻的(de)測(ce)(ce)試(shi)和(he)(he)(he)測(ce)(ce)量應用(yong)的(de)高(gao)性(xing)(xing)(xing)能(neng)(neng)需求,具有低(di)的(de)光(guang)損耗、優良的(de)連接穩定性(xing)(xing)(xing)和(he)(he)(he)可重(zhong)復性(xing)(xing)(xing),且外(wai)形緊湊。6000i系(xi)列(lie)(lie)通過嵌入式NETCONF和(he)(he)(he)RESTCONF控制(zhi)接口支(zhi)持軟件定義網(wang)絡(SDN),可直接與基(ji)于(yu)云的(de)網(wang)絡和(he)(he)(he)基(ji)礎設施(shi)測(ce)(ce)試(shi)應用(yong)程序連接。6000iis系(xi)列(lie)(lie)基(ji)于(yu)Polatis的(de)DirectLight光(guang)交換(huan)技術(shu),該技術(shu)已在具挑(tiao)戰性(xing)(xing)(xing)的(de)國防、數據和(he)(he)(he)電信應用(yong)中得(de)到(dao)驗證,主要(yao)網(wang)絡設備制(zhi)造(zao)商專(zhuan)門(men)用(yong)于(yu)自(zi)動化(hua)光(guang)學組件和(he)(he)(he)子系(xi)統的(de)測(ce)(ce)試(shi)。
產地:英國
典型插入損耗:0.5dB
插入損耗:max.1.0dB
單OPM插入損耗:max.1.3dB
損耗(hao)重復(fu)性:+/-0.05dB
連接(jie)穩定性(xing):+/-0.05dB
工作波長范(fan)圍:1260-1675nm
回(hui)波損(sun)耗(帶APC連(lian)接器(qi)):>50dB
通過交換(huan)機連接的數據延遲:25ns
切換時間:max.25ms
串擾:<-55dB
偏振(zhen)相關損耗(PDL):<0.1dB(C+L頻帶)
<0.3dB,可選(xuan)OPM(C+L頻段)
暗光纖切換:是
雙向光學:是
波(bo)長相關損耗(wDL):<0.3 dB(C+L頻帶(dai))
光輸入功率(lv):max.+27dBm
開關壽命:>109個周期
工(gong)作溫度:+10ºC至+40ºC,<85%Rh不凝結
儲存溫度:-40ºC至+70ºC,<40%Rh不(bu)凝(ning)結
光纖類型:單模
用戶(hu)界(jie)面:雙千兆以太網和可選GPIB
工藝接口(kou):RS232串行和USB
安全用戶訪(fang)問協議:RADIUS
集(ji)中測(ce)試(shi)設備共享和自動化網絡測(ce)試(shi)
組件、轉發器、線路(lu)卡和子系統(tong)測(ce)試(shi)
新產品(pin)發布的自動(dong)回歸測試
基于云的(de)SDN測試配置
衛星上行鏈路和RFoF測試
系(xi)統和網絡(luo)測(ce)試臺重新配置
PON和FTTx系統測試(shi)臺