2DQuick IR 旨(zhi)在(zai)使用陣列檢測器收集高質量的(de) 2D 紅外光譜。該光譜儀(yi)采(cai)用中紅外脈沖整形技術和(he)單(dan)色儀(yi)陣列檢測,可快速(su)收集數據并實(shi)現高信(xin)噪比。
產地:美國
重復率(lv):≤ 100 kHz
建議脈沖能量:≥ 8 μJ @ 1 kHz
≥ 1 μJ @ 100 kHz
輸(shu)入(ru)偏振:線(xian)性,水平
輸入光束尺寸(cun) (1/e^2):7 mm,準直(zhi)
泵浦探測延遲:> 150 ps
標準 AR 涂層:2.6 - 10 μm(1000 - 3850 1/cm)(其他(ta)波(bo)長范圍可根(gen)據要求提供)
光譜窗口:> 1.5 μm at 5.5 μm
光譜分辨率:< 5 1/cm at 5.5 μm
雙脈沖延遲max.:> 5 ps1 at 5.5 μm
底座(zuo)尺寸:18.0 x 39.0 x 6.3 英(ying)寸(45.7 x 99.1 x 16.1 厘米)
帶單色(se)儀和探(tan)測器(qi)尺寸:約49.8 x 21.4 x 9.5 英寸(約 127 x 54 x 24 厘米(mi))