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scia Systems離子束蝕刻系統scia Mill 150

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產品介紹

scia Mill 150 專為構造各種(zhong)材料的復雜多(duo)層而設計(ji)。憑借其完全反應(ying)氣(qi)體兼容性,該系統還(huan)能夠以增強(qiang)的選擇性和速率進行反應(ying)蝕刻工(gong)藝。由于其節省空間的設計(ji),scia Mill 150 非常適合小規模生產(chan)和研發應(ying)用(yong)。

性能特點
  • 蝕刻角度可通過可傾斜和可旋轉的基板支架進行調整
  • 無需整形器即可實現好的均勻性
  • 使用反應氣體增強選擇性和速率
  • 使用準確的 SIMS 或光學終點檢測進行過程控制
  • 載體概念可適應各種基板尺寸
  • 由于良好的晶圓冷卻,可使用光刻膠掩模處理晶圓
技術參數

產地:德國

基(ji)片尺寸(max):直(zhi)徑150 mm。

基(ji)片(pian)支架:水冷,氦氣(qi)背面冷卻(que)接觸,基(ji)片(pian)旋轉1至(zhi)20 rpm,可(ke)原位傾斜0°至(zhi)165°,步長0.1°

離子束源:190 mm圓形微波ECR源(MW218-e)

中和器:三(san)重等離(li)子橋中和器(N-3DC)

射(she)頻等(deng)離子橋中和器(RF-PBN)

基準壓力:< 5 x 10-7 mbar

系(xi)統尺寸(寬x深x高):1.90 m x 1.80 m x 1.75 m(不(bu)含電氣(qi)架)

配置:單腔,可(ke)選單基片負載鎖,可(ke)選OES或SIMS終(zhong)點檢測

軟件接口:SECS II / GEM,OPC

典型去除率:SiO2:30 nm/min

均(jun)勻(yun)性(xing)變(bian)化:≤3 %(σ/平(ping)均(jun)值)

產品應用

磁存(cun)儲器 (MRAM) 和傳感器 (GMR、TMR) 的結構化

MEMS 生產中的金屬銑削 (Au、Ru、Ta 等(deng))

不(bu)同金(jin)屬和介電材料(liao)多層的銑削

化合物(wu)半導體 (GaAs、GaN、InP 等) 的化學輔助離子束蝕刻 (CAIBE)

三(san)維光(guang)電微(wei)結(jie)構的生產

用(yong)于降低(di)微觀粗(cu)糙度的(de)離子束平滑(hua)

用于光柵(zha) (SiO2) 圖案轉移的反(fan)應(ying)離子(zi)束蝕刻 (RIBE)

產品參數

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