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標準延遲(chi)線(xian)探(tan)(tan)測器(qi) (DLD) 已(yi)經結合了廣(guang)泛的(de)(de)應用。與其他技(ji)術（例(li)如象(xiang)限(xian)陽極(ji)、電(dian)阻屏陽極(ji)、CCD 相機）相比(bi)，延遲(chi)線(xian)技(ji)術的(de)(de)限(xian)制要少得多(duo)。沒有其他技(ji)術能(neng)夠提供(gong)如此廣(guang)泛的(de)(de)參數，如高(gao)粒子(zi)率(lv)、高(gao)位(wei)置(zhi)分辨率(lv)和(he)低死(si)區時間。借助 RoentDek HEX 探(tan)(tan)測器(qi)，延遲(chi)線(xian)技(ji)術已(yi)達到新的(de)(de)水平。從歷史上(shang)看，它(ta)們是為同(tong)時和(he)無(wu)死(si)區時間檢(jian)測多(duo)個電(dian)子(zi)而開發的(de)(de)。到目前為止，沒有其他探(tan)(tan)測器(qi)概念(nian)在具有零死(si)區的(de)(de)多(duo)重命中(zhong)性能(neng)方面接(jie)近(jin)。
RoentDek HEX 探測(ce)器有各(ge)種尺寸，從(cong) 40 毫米(mi)有效(xiao)(xiao)面積到 120 毫米(mi)有效(xiao)(xiao)直徑 - 既(ji)可以(yi)(yi)作為(wei)單個(ge)設(she)備(bei)，也可以(yi)(yi)作為(wei)完(wan)(wan)整系統的(de)一(yi)部分，其中包(bao)括(kuo)一(yi)整套(tao)所需的(de)電子設(she)備(bei)和完(wan)(wan)整的(de)軟(ruan)件解決方案（包(bao)括(kuo)對(dui) LabView 的(de)支持）。
RoentDek 始終專注(zhu)于多粒(li)子檢(jian)測（例(li)如，記(ji)錄完整分子碎片所需的(de)檢(jian)測）。硬件和(he)軟件中的(de)死區(qu)時間(jian)（min）和(he)多次命中能力(li)是(shi)我們理念的(de)基(ji)本部分。
- 多粒子檢測。
- 零死區時間（如果粒子間隔至少 10 毫米）。
- 改進的圖像線性。
- 對實現的位置分辨率進行內在診斷在線控制。
- 可提供中心孔。
產地：德國
設計：3 層
粒子速(su)率：超過 1 MHz
檢測：多粒子
absolute檢測效率(lv)：81%
位置分(fen)辨率(lv)：17 至 45 µm（RMS）
定時(shi)TOF分辨(bian)率：25 至 100 ps（RMS）
有效面積：40 毫米
有效直徑：120 毫米
探測類(lei)型：標準延(yan)遲線
死區時間：零
原子/分子物理學
動量光譜（例如 COLTRIMS 反應(ying)顯微(wei)鏡）
激光和同步(bu)加速(su)器測量
VMI
與其他探(tan)測器的巧合測量
