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Semiconsoft薄膜厚度測量系統MProbe Vis

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產品介紹

MProbe Vis薄(bo)膜(mo)測量系統(tong)是緊湊且(qie)多功能的(de)臺式系統(tong)。它可以(yi)測量不同基板上(shang)10nm – 150μm厚度范圍(wei)的(de)半透(tou)明薄(bo)膜(mo)。而(er)且(qie),它經(jing)濟(ji)且(qie)易(yi)于使用。MProbe Vis(X) 的(de)生產版(ban)本設計用于承受振動并使用 LAN 連接 24/7 全天運行。它可用于在線和OEM應用。它與(yu)潔(jie)凈(jing)室環(huan)境兼容(rong)。MProbe20 VisX系統(tong)是MProbe20 Vis系統(tong)的(de)一(yi)個版(ban)本,在更(geng)長的(de)波長(>700nm)下具有更(geng)高的(de)靈敏度。

性能特點
  • 經濟且易于使用
技術參數
  • 產地:美國
  • 波長范圍(可用):400-1000nm(典型校準范圍:380-1050nm)和VisX的450nm -1050nm
  • 波長分辨率:< 1nm,20μm狹縫(整個光譜均勻)
  • 厚度范圍 : 10nm – 150 μm
  • 精度/重復性:<0.01nm 或 0.02%
  • 精度:<1nm或0.2%
  • 測量光斑尺寸:< 1mm(標準)
  • 最小數據采集時間:10 μs
  • 光源:5W TH燈,使用壽命10000小時(可選:20W TH燈,使用壽命2000小時)
  • 通信接口:USB和1Gb LAN
產品參數

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