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產品介紹
Particle Metrix在其久經驗證的平臺(tai)PMX-x30上提供了ZetaView納米粒子跟蹤分析的多(duo)功能性(xing)，使儀器可(ke)以(yi)從一個激(ji)光(guang)器升級(ji)到四個激(ji)光(guang)器。405488520或640nm激(ji)光(guang)之間(jian)以(yi)及散射和熒光(guang)模式之間(jian)的變化是自動的。
在標準NTA或Z-NTA表面(mian)電(dian)荷電(dian)泳模式中(zhong)記錄發射散射光或熒光的(de)顆粒的(de)運動和圖案(an)。PMX-x30系列的(de)新設計帶(dai)有固定單(dan)元組件(jian)，將(jiang)增強的(de)性(xing)能和可靠、無誤差的(de)測量與簡單(dan)、快(kuai)速(su)、輕(qing)松的(de)儀器清潔相結合(he)。
性能特點
- 掃描NTA-通過樣品池在11個位置進行自動測量，提供穩健的性能，而不需要額外的附件。
- 固定單元組件設計-大大提高了性能，減少了出錯的可能性。
- 自動對準和自動對焦-光學設置由軟件自動優化，節省了用戶準備儀器使用的時間，并消除了用戶主觀輸入的偏見。
- 快速測量-在60秒內分析2000多個顆粒。
- 快速簡單的清潔-樣品之間的清潔只需要快速沖洗。新的固定單元設計允許使用卡口鎖快速訪問測量單元。
- 直觀的軟件-紅綠燈系統可以即時指示樣品是否處于適合測量的濃度，并指示樣品的稀釋系數。
- 緊湊的一體化設計-使用一臺儀器測量尺寸、濃度、電位和熒光。兼容實驗室環境小占地面積和數據文件。
- 熒光分析-熒光NTA測量允許詢問樣品中的亞群體。一個靈敏的CMOS相機，多達11個選擇性濾波器，低漂白性能產生高熒光靈敏度。
- 沒有高成本耗材，只有注射器和散射和熒光測量的參考標準（如果適用）。
- 無需校準-尺寸測量不需要校準。
技術參數
產地：德國
掃描：電動
掃描(miao)速度：不(bu)到(dao)1分鐘的時間內采(cai)集和分析2000個粒子
測量：極性(xing)液(ye)體(ti)（如水(shui)、醇）中的(de)納米粒子，用于尺寸、濃度、熒(ying)光和zeta電位研究(jiu)
濃度(du)范圍：105-109粒/毫(hao)升(sheng)
粒度：10nm-2000nm（取決于(yu)樣品和激光）
精度(du)：+5nm（適用于100nm聚(ju)苯乙烯膠乳）
再現性(xing)：t2nm（適用于100nm聚(ju)苯乙烯膠(jiao)乳）
可用激(ji)光波長：405nm、488nm、520nm、640nm、660nm
典型激光(guang)功率：>30mW
相機類型：CMOS
濾波器：11個
產品參數
