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Particle Metrix納米粒子跟蹤分析儀ZetaView

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產品介紹

Particle Metrix在其久經驗證(zheng)的(de)平(ping)臺(tai)PMX-x30上提供了ZetaView納米粒子跟蹤分析的(de)多功能性,使儀(yi)器可以(yi)從一個激光器升級到(dao)四個激光器。405488520或(huo)640nm激光之(zhi)間以(yi)及散射(she)和熒光模(mo)式之(zhi)間的(de)變化是自動(dong)的(de)。

在標(biao)準NTA或Z-NTA表面電(dian)荷(he)電(dian)泳模(mo)式中記(ji)錄(lu)發(fa)射(she)散射(she)光(guang)或熒光(guang)的(de)顆粒的(de)運動和圖(tu)案。PMX-x30系列(lie)的(de)新設計帶有固定單元(yuan)組件,將增強的(de)性能和可靠(kao)、無誤差的(de)測量與簡單、快速(su)、輕(qing)松(song)的(de)儀器清潔相結(jie)合(he)。

性能特點
  • 掃描NTA-通過樣品池在11個位置進行自動測量,提供穩健的性能,而不需要額外的附件。
  • 固定單元組件設計-大大提高了性能,減少了出錯的可能性。
  • 自動對準和自動對焦-光學設置由軟件自動優化,節省了用戶準備儀器使用的時間,并消除了用戶主觀輸入的偏見。
  • 快速測量-在60秒內分析2000多個顆粒。
  • 快速簡單的清潔-樣品之間的清潔只需要快速沖洗。新的固定單元設計允許使用卡口鎖快速訪問測量單元。
  • 直觀的軟件-紅綠燈系統可以即時指示樣品是否處于適合測量的濃度,并指示樣品的稀釋系數。
  • 緊湊的一體化設計-使用一臺儀器測量尺寸、濃度、電位和熒光。兼容實驗室環境小占地面積和數據文件。
  • 熒光分析-熒光NTA測量允許詢問樣品中的亞群體。一個靈敏的CMOS相機,多達11個選擇性濾波器,低漂白性能產生高熒光靈敏度。
  • 沒有高成本耗材,只有注射器和散射和熒光測量的參考標準(如果適用)。
  • 無需校準-尺寸測量不需要校準。
技術參數

產地:德國

掃描:電動

掃描速(su)度:不到1分(fen)鐘的(de)時間內(nei)采集(ji)和分(fen)析2000個粒子

測量:極性液體(如水、醇)中(zhong)的(de)納米粒(li)子,用于(yu)尺寸、濃(nong)度、熒光和zeta電位研(yan)究

濃度范(fan)圍:105-109粒/毫(hao)升

粒度(du):10nm-2000nm(取決于(yu)樣品和激光)

精度(du):+5nm(適用(yong)于100nm聚苯乙(yi)烯膠乳)

再現性:t2nm(適用于100nm聚(ju)苯(ben)乙(yi)烯膠乳)

可用激(ji)光波(bo)長(chang):405nm、488nm、520nm、640nm、660nm

典型激(ji)光功率:>30mW

相機類型:CMOS

濾波器:11個

產品參數

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