Andor 的 PV Inspector NIR 相機旨在(zai)為在(zai)線電(dian)致發光和(he)(he)光致發光檢測提(ti)供(gong)超快(kuai)的速度(du)和(he)(he)靈敏度(du)性(xing)能,在(zai) 800 nm 以上提(ti)供(gong) > 90% 的 QE,并結合了邊緣抑制技術,以大限度(du)地減少 NIR 中的邊緣效應。1024 x 1024 陣列擁有高(gao)分辨率 13 μm 像素,并受益(yi)于可(ke)忽(hu)略不計的暗電(dian)流(liu)和(he)(he)低至(zhi) -70°C 的熱電(dian)冷卻。PV Inspector 通(tong)過高(gao)達 5 MHz 的快(kuai)速讀(du)出速度(du)提(ti)供(gong)高(gao)的吞吐量,并結合獨特的“雙曝光環(huan)模式”,允許快(kuai)速曝光切換。可(ke)鎖定的 USB 2.0 端口可(ke)確保安全的抗震連接。
PV Inspector 增強的 NIR 靈敏度和獨(du)特(te)的高速模式(shi)能夠以超過每秒 1 個(ge)電池的速率(lv)進(jin)行(xing)雙(shuang)重曝光(guang) EL 檢測(ce),非(fei)常(chang)適(shi)合在縱梁和電池分選機中發現(xian)的高通量(liang) PV 檢測(ce)系(xi)統。快速的雙(shuang)曝光(guang)成像允許在不同(tong)的偏差水平下對(dui)細胞進(jin)行(xing)定量(liang)測(ce)量(liang)。