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產品介紹
QuellTech 激(ji)光(guang)(guang)掃描儀利(li)用三角測量原理來檢測表面的(de)(de)二維輪(lun)廓。通過(guo)特定的(de)(de)光(guang)(guang)學組件，點狀激(ji)光(guang)(guang)束被擴展為一條(tiao)線(xian)并投射(she)到感興趣(qu)的(de)(de)對(dui)象上(shang)。反射(she)激(ji)光(guang)(guang)線(xian)的(de)(de)漫射(she)光(guang)(guang)被物鏡以(yi)一定角度捕獲，然后導向二維接(jie)收芯(xin)片。
根據已知的距離和角度，為 x 水平（激光線）中的每個(ge)像(xiang)素計算準確的校準高度值 (z)，從(cong)而(er)在樣本的 x-z 平面(mian)中產生(sheng)準確的輪(lun)廓。如果掃描儀在樣品（y 軸）上(shang)引(yin)導，則會創建一(yi)系列輪(lun)廓，在空間中形成三維(wei)點云(yun)(yun)。 該點云(yun)(yun)可以通過軟件進行尺(chi)寸控制。
性能特點
- 分辨率低至24 µm
- 用于非常有光澤的材料的特殊算法
- 不同的高動態范圍 (HDR) - 反射率差異很大的物體的模式
- 反射率差異很大的物體的多斜率模式
- 不同的觸發方式，2個觸發輸入（編碼器輸入RS422）
- 在芯片上設置多個測量窗口
- 自動跟蹤測量窗口
- 多掃描儀應用的主從配置
- 存儲在激光掃描儀中的用戶配置
- 在制造商現場單獨進行極其準確的校準
- 帶防護系統 IP67 的外殼
- *GenICam 和 GigEVision 接口標準，用于連接已知的圖像處理軟件工具
- 軟件開發工具包
- 圖像處理軟件
技術參數
掃(sao)描儀類型：50-178
Z范圍： 50 mm
X 起點范圍：165 mm
X 中間范圍(wei)（標(biao)稱）：178 mm
X 端范圍(wei)：190 mm
距離(li)Z- 起點范圍：123 mm
工作距離Z-中間范(fan)圍：148 mm
X分辨率：86.91μm
Z分(fen)辨率：2.13μm
產品應用
錫膏用量監督
連接器的(de)銷直線度測量
表面凸度測量
間隙測量和控制
尺寸穩定性(xing)的在線檢測
食物分份
鐵路用鋼軌型材檢驗
飛機襟翼和(he)副翼的角度(du)設置
印刷電路的檢查
產品參數
