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產品介紹
QuellTech 激(ji)(ji)光掃(sao)描儀利用三角測(ce)量原理(li)來(lai)檢測(ce)表(biao)面的(de)二維輪廓。通過特定的(de)光學組件，點狀激(ji)(ji)光束被(bei)擴展為一條線(xian)并投射到感興趣的(de)對象上。反射激(ji)(ji)光線(xian)的(de)漫射光被(bei)物鏡以一定角度捕(bu)獲(huo)，然(ran)后導(dao)向二維接收芯片(pian)。
根據已知的(de)距離和角度，為 x 水平（激(ji)光線(xian)）中的(de)每個像素計算準(zhun)確的(de)校準(zhun)高度值 (z)，從而在(zai)(zai)樣本的(de) x-z 平面中產生準(zhun)確的(de)輪廓(kuo)。如(ru)果掃描儀(yi)在(zai)(zai)樣品（y 軸）上(shang)引導，則會創建一系列輪廓(kuo)，在(zai)(zai)空間中形(xing)成三(san)維點云。 該點云可以通過軟(ruan)件進行尺寸(cun)控(kong)制。
性能特點
- 分辨率低至24 µm
- 用于非常有光澤的材料的特殊算法
- 不同的高動態范圍 (HDR) - 反射率差異很大的物體的模式
- 反射率差異很大的物體的多斜率模式
- 不同的觸發方式，2個觸發輸入（編碼器輸入RS422）
- 在芯片上設置多個測量窗口
- 自動跟蹤測量窗口
- 多掃描儀應用的主從配置
- 存儲在激光掃描儀中的用戶配置
- 在制造商現場單獨進行極其準確的校準
- 帶防護系統 IP67 的外殼
- *GenICam 和 GigEVision 接口標準，用于連接已知的圖像處理軟件工具
- 軟件開發工具包
- 圖像處理軟件
技術參數
掃(sao)描儀(yi)類型：50-178
Z范(fan)圍： 50 mm
X 起點范圍：165 mm
X 中間范(fan)圍(wei)（標稱）：178 mm
X 端(duan)范圍：190 mm
距離(li)Z- 起點范圍：123 mm
工作距離(li)Z-中(zhong)間范圍：148 mm
X分辨(bian)率：86.91μm
Z分辨率：2.13μm
產品應用
錫膏用量監督
連接(jie)器的銷直(zhi)線度測量
表面凸度測量
間隙測量和控制
尺寸穩定(ding)性的在線(xian)檢測
食物分份
鐵路用鋼軌型材檢驗
飛機襟翼和副(fu)翼的角度設(she)置
印刷電路的檢查
產品參數
